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技術文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 202410-30
    XRM應用分享 | 高分辨顯微CT檢測技術在生命科學領域的前沿應用

    隨著科學技術的飛速發(fā)展,高分辨顯微CT(ComputedTomography)檢測技術作為一種非破壞性的三維成像技術,在生命科學領域展現(xiàn)出了巨大的應用潛力和價值。其不僅能夠實現(xiàn)生物樣本的精確成像,還能提供豐富的生物學信息,為生命科學研究提供了強有力的技術支持。本文旨在探討高分辨顯微CT檢測技術在生命科學領域的前沿應用,并分析其在推動科學進步方面的作用。一、概述高分辨顯微CT檢測技術是一種基于X射線的高精度三維成像技術,它結合了CT掃描與顯微鏡技術的優(yōu)點,能夠在不破壞樣本的前提...

  • 202410-30
    XRD應用分享 | 微焦斑高分辨XRD在電子器件領域的應用——以PZT電容器為例

    微電子器件的功能在很大程度上取決于其晶體結構。高分辨率X射線衍射(HRXRD)是一種無損分析技術,能夠以亞納米級的精度研究晶體結構-即使是在非環(huán)境或工作狀態(tài)下。使用實驗室X射線衍射儀通過HRXRD研究這些微米級尺寸的器件極其具有挑戰(zhàn)性,因為需要一束小于所關注結構的X射線束。鋯鈦酸鉛(PZT)電容器在提高各種電子設備和系統(tǒng)的功能及性能方面起著至關重要的作用。由于其能夠在電能和機械能之間轉換,它們被用于需要高精度、控制和高效能量轉換的應用中。典型的例子包括微機電系統(tǒng)(MEMS)器...

  • 202410-30
    應用分享|少子壽命測試儀(MDP)針對碳化硅器件性能優(yōu)化的關鍵作用

    1應用背景在微電子半導體行業(yè)日新月異的現(xiàn)狀,材料質量的提升與器件性能的優(yōu)化成為推動技術進步的關鍵因素。碳化硅(SiC)作為一種新興的高性能半導體材料,以其優(yōu)異的導熱性、高擊穿電場強度及耐高溫特性,在電力電子、新能源汽車、航天航空等領域展現(xiàn)出巨大的應用潛力。然而,碳化硅器件的性能優(yōu)化并非易事,其涉及到材料質量、加工工藝、器件設計等多個層面的精細控制。在這個過程中,少數(shù)載流子壽命(少子壽命)作為評價半導體材料質量的重要參數(shù)之一,其精確測量與深度分析顯得尤為重要。2儀器介紹德國弗萊...

  • 202410-25
    D8 X射線衍射儀:解鎖材料科學新境界?

    D8X射線衍射儀是一種基于X射線與物質相互作用原理的精密儀器,它能夠揭示物質內部的晶體結構信息。自從1895年倫琴發(fā)現(xiàn)X射線以來,這種神秘的光線便開啟了探索物質世界的新紀元。X射線由于其波長與原子間距相當,當其通過晶體時會發(fā)生衍射現(xiàn)象,這一特性為研究物質內部結構提供了可能。D8X射線衍射儀的核心工作原理基于布拉格定律。當X射線以特定角度射向晶體時,如果射線的波長與晶體中原子平面的距離滿足特定的數(shù)學關系,就會發(fā)生衍射增強。每一種晶體物質都有自己獨特的衍射圖案,這些圖案就像是物質...

  • 202410-25
    X射線顯微斷層成像系統(tǒng)的組成部件

    X射線顯微斷層成像系統(tǒng)是一種先進的成像技術,廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學和工業(yè)檢測等領域。這種系統(tǒng)通過結合X射線技術和計算機重建算法,能夠提供高分辨率的三維圖像,幫助研究人員和工程師深入了解樣品的內部結構。以下是對X射線顯微斷層成像系統(tǒng)組成部件的描述:1.X射線源X射線源是整個成像系統(tǒng)的核心部分,負責產生高能X射線束,這些射線穿透樣品后被探測器捕獲。常見的X射線源包括封閉管式和開放式兩種類型。封閉管式X射線源通常用于實驗室環(huán)境,而開放式X射線源則適用于需要更高能量或更大工作空...

  • 202410-23
    晶體日記(二十四)-別高興太早- X射線衍射XRD

    太忙,許久沒有寫什么東西。也很少能找到時間靜下心來去思考一些事情。大環(huán)境太卷,都不知道在卷什么。即便忙到飛起,還是有很多時間很可惜的浪費掉了。解析結構也是如此。有時忙活半天才發(fā)現(xiàn),起初的結論壓根就是個“苦笑”的錯誤。從電報烏龍看科學解析的局限培訓時,突然想起初中時一件啼笑皆非的事情。在那個還幾乎沒有電話的年代,依稀記得初二那年,語文老師突然接到東北老家發(fā)來的電報,意思是父親病故速回。語文老師哭紅了眼睛跟我們說她回去幾天。然而一個禮拜之后語文課上,她十分氣憤地告訴我們這是一個大...

  • 202410-23
    晶體日記(二十三)-單晶測試容易犯的錯誤-以偏概全- X射線衍射XRD

    前言寫這個的起因,是因為做DEMO時犯的一個錯誤。其實很多測試看起來確實很簡單,很多高大上的儀器,真正的操作其實也并沒有什么繁瑣的。甚至從培訓的時候就能看的出來。大部分同學聽完怎么操作就懶得再聽下去了,于是20人結果經常堅持下來的人只有2人。我想大部分使用的人實際上連布拉格方程是什么都沒有理解。不然也不會有那么多人始終分不清單晶衍射儀和粉末衍射儀的區(qū)別。單晶X射線衍射SC-XRD是為了利用X射線衍射測定晶體的三維結構(實空間)而設計。通過測試單顆晶體,獲取三維空間的倒易點陣信...

  • 202410-23
    應用分享 | TOF-SIMS在有機樣品分析中的利器

    飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)作為重要表面分析技術,不僅能夠提供有機材料表面的質譜圖、還可以觀測表面離子空間分布以及膜層深度分布信息,展現(xiàn)出了廣泛的應用前景和巨大潛力。但是在對有機樣品進行TOF-SIMS分析時也面對一些挑戰(zhàn),例如有機材料導電性差引起荷電效應,大質量數(shù)離子譜峰難以解析分子結構,以及有機組分易揮發(fā)導致超高真空環(huán)境下難以檢測到等。在本期文章中,我們將針對這些挑戰(zhàn)來介紹TOF-SIMS對應的分析利器。一.有絕緣樣品的荷電中和有機材料普遍存在導電性較差的問題...

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